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       從薄膜原理、設(shè)計(jì)到工藝培訓(xùn)

1. 生活中的薄膜

1.1 自然界的薄膜

1.2 結(jié)構(gòu)與功能

1.3 光子晶體與微納結(jié)構(gòu)

2. 光學(xué)薄膜理論基礎(chǔ)

2.1 介質(zhì)和波

2.2 垂直入射時(shí)的界面和薄膜特性計(jì)算

2.3 傾斜入射時(shí)的界面和薄膜特性計(jì)算

2.4 后表面對(duì)光學(xué)薄膜特性的影響

2.5 光學(xué)薄膜設(shè)計(jì)理論

3. Essential Macleod概況及其基本操作

3.1 Macleod軟件特點(diǎn)介紹

3.2 程序快速入門

3.3 Macleod軟件基本框架及參數(shù)設(shè)置

4. 光學(xué)薄膜設(shè)計(jì)

4.1 光學(xué)薄膜設(shè)計(jì)的進(jìn)展

4.2 光學(xué)薄膜設(shè)計(jì)中的一些實(shí)際問題

4.3 光學(xué)薄膜設(shè)計(jì)技巧

4.4 特殊光學(xué)薄膜的設(shè)計(jì)方法

4.5 Macleod軟件的設(shè)計(jì)與優(yōu)化功能

4.5.1 優(yōu)化目標(biāo)設(shè)置

4.5.2 優(yōu)化方法（單一優(yōu)化，合成優(yōu)化，模擬退火法，共軛梯度法，準(zhǔn)牛頓法，針形優(yōu)化，差分演化法）

4.5.3 膜層鎖定和鏈接

5. 常規(guī)光學(xué)薄膜系統(tǒng)設(shè)計(jì)與分析

5.1 減反射薄膜

5.2 分光膜

5.3 高反射膜

5.4 干涉截止濾光片

5.5 窄帶濾光片

5.6 負(fù)濾光片

5.7 非均勻膜與Rugate濾光片

5.8 Vstack薄膜設(shè)計(jì)示例

5.9 Stack應(yīng)用范例說明

6. VR、AR及HUD用光學(xué)薄膜

6.1 背景介紹

6.2 產(chǎn)品特性

6.3 典型VR系統(tǒng)光學(xué)薄膜設(shè)計(jì)分析

6.4 典型AR系統(tǒng)光學(xué)薄膜設(shè)計(jì)分析

6.5 典型HUD系統(tǒng)光學(xué)薄膜設(shè)計(jì)分析

7. 防霧薄膜

7.1自清潔效應(yīng)

2. 7.2 超親水薄膜

7.3 超疏水薄膜

7.4 防霧薄膜的制備

7.5 防霧薄膜的性能測(cè)試

8. 材料管理

8.1 光學(xué)薄膜材料性能及應(yīng)用評(píng)述

8.2 金屬與介質(zhì)薄膜

8.3 材料模型

8.4 介質(zhì)薄膜光學(xué)常數(shù)的提取

8.5 金屬薄膜光學(xué)常數(shù)的提取

3. 8.6 基板光學(xué)常數(shù)的提取

8.7 光學(xué)常數(shù)導(dǎo)出遇到的問題及解決思路

9. 薄膜制備技術(shù)

9.1 常見薄膜制備技術(shù)

9.2 光學(xué)薄膜制備流程

9.3 淀積技術(shù)

9.4 工藝因素

10. 誤差、容差與光學(xué)薄膜監(jiān)控技術(shù)

10.1 光學(xué)薄膜監(jiān)控技術(shù)

10.2 誤差分析與監(jiān)控決策

10.3 Runsheet 與 Simulator應(yīng)用技巧

10.4 膜系靈敏度分析

10.5 膜系容差分析

10.6 誤差分析工具

11. 光學(xué)薄膜特性測(cè)量

11.1 薄膜光學(xué)常數(shù)的測(cè)量

11.2 薄膜堆積密度的測(cè)量

11.3 薄膜微觀結(jié)構(gòu)分析

11.4 薄膜成分分析

11.5 薄膜硬度、附著性及耐摩擦性的測(cè)量

11.6 薄膜表面粗糙度的測(cè)量

12. 項(xiàng)目管理與應(yīng)用實(shí)例

12.1 項(xiàng)目管理

12.2 光學(xué)薄膜項(xiàng)目開發(fā)過程

12.3 客戶需求分析

12.4 文檔管理與報(bào)表生成

12.5 【案例分析】Macleod 軟件在太陽能薄膜中的應(yīng)用

12.6 【案例分析】Macleod 軟件在激光薄膜設(shè)計(jì)分析中的應(yīng)用

12.7 【案例分析】Macleod 軟件在光電功能薄膜中的應(yīng)用